渡邊 浩志

研究成果

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每年研究成果

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• 2021

  Trap-related reliability problems of dielectrics in memory cells

  Watanabe, H. & Lin, H. J., 1 6月 2021, 於: Electronics (Switzerland). 10, 11, 1287.

  研究成果: Review article › 同行評審

  開啟存取

  • Dielectric 100%
  • Reliability Issues 100%
  • Memory Cell 100%
  • Electronic Charge 100%
  • Dielectric Material 100%
  1 引文 斯高帕斯（Scopus）