每年專案
個人檔案
研究專長
奈米電子元件、半導體製程技術、鐵電元件、二維材料
教育/學術資格
PhD, 電子, National Chiao Tung University
指紋
查看啟用 Chun-Jung Su 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
- 1 類似的個人檔案
網路
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料,或
-
-
臺日(JP)雙邊協議型擴充加值(add-on) 國際合作研究計畫-奈米級鐵電電晶體之研究開發及其在機器學習加速器之應用
1/04/22 → 31/03/23
研究計畫: Other Government Ministry Institute
-
-
-
臺日(JP)雙邊協議型擴充加值(add-on) 國際合作研究計畫-奈米級鐵電電晶體之研究開發及其在機器學習加速器之應用
1/04/21 → 31/03/22
研究計畫: Other Government Ministry Institute
-
Monolithic 3D integration of back-end compatible 2D material FET on Si FinFET
Guan, S. X., Yang, T. H., Yang, C. H., Hong, C. J., Liang, B. W., Simbulan, K. B., Chen, J. H., Su, C. J., Li, K. S., Zhong, Y. L., Li, L. J. & Lan, Y. W., 12月 2023, 於: npj 2D Materials and Applications. 7, 1, 9.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取 -
3D Monolithic Stacking of Complementary-FET on CMOS for Next Generation Compute-In-Memory SRAM
Baig, M. A., Yeh, C. J., Chang, S. W., Qiu, B. H., Huang, X. S., Tsai, C. H., Chang, Y. M., Sung, P. J., Su, C. J., Cho, T. C., De, S., Lu, D., Lee, Y. J., Lee, W. H., Wu, W. F. & Yeh, W-K., 2022, (Accepted/In press) 於: IEEE Journal of the Electron Devices Society. p. 1 1 p.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取 -
Demonstration of synaptic characteristics of polycrystalline-silicon ferroelectric thin-film transistor for application of neuromorphic computing
Ma, W. C. Y., Su, C. J., Lee, Y. J., Kao, K. H., Chang, T. H., Chang, J. C., Wu, P. H., Yen, C. L. & Lin, J. H., 1 4月 2022, 於: Semiconductor Science and Technology. 37, 4, 045003.研究成果: Article › 同行評審
-
Effects of Annealing Temperature on TiN/Hf0.5Zr0.5O2/TiN Ferroelectric Capacitor Prepared by <italic>In-situ</italic> like Consecutive Atomic Layer Deposition
Liang, Y. K., Huang, Y. S., Peng, L. C., Yang, T. Y., Young, B. F., Lu, C. C., Yeong, S. H., Lin, Y. M., Su, C. J., Chang, E. Y. & Lin, C. H., 2022, (Accepted/In press) 於: IEEE Transactions on Nanotechnology. p. 1-4 4 p.研究成果: Article › 同行評審
2 引文 斯高帕斯(Scopus) -
Efficient Erase Operation by GIDL Current for 3D Structure FeFETs with Gate Stack Engineering and Compact Long-Term Retention Model
Mo, F., Xiang, J., Mei, X., Sawabe, Y., Saraya, T., Hiramoto, T., Su, C. J., Hu, V. P. H. & Kobayashi, M., 2022, 於: IEEE Journal of the Electron Devices Society. 10, p. 115-122 8 p.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取2 引文 斯高帕斯(Scopus)