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個人檔案
研究專長
超大密度磁性儲存、奈米傳導、半導體量子結構、太陽能電池、奈米記憶體材料
經歷
2007/07~迄今 國立交通大學電子工程學系/電子研究所教授
2014/08~迄今 國立交通大學學務處課外活動組組長
教育/學術資格
PhD, 物理, Boston University
外部位置
指紋
查看啟用 Chiung-Yuan Lin 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
- 1 類似的個人檔案
過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
專案
- 10 已完成
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以第一原理研究氧化鈦之氧空缺遷移路徑:邁向電阻式記憶體結構電子突觸的應用
Lin, C.-Y. (PI)
1/08/17 → 31/07/18
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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矽奈米晶體太陽能電池嵌於非晶氧化矽之古典分子動力學暨第一原理量子傳輸計算
Lin, C.-Y. (PI)
1/08/14 → 31/07/15
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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矽奈米晶體嵌於氧化鋅之太陽能電池之第一原理計算與緊束縛計算
Lin, C.-Y. (PI)
1/08/13 → 31/07/14
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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Impacts of Annealing Temperature on Performance and Reliability of Morphotropic Phase Boundary (MPB) in HZO
Liu, H. Y., Peng, W. C., Yu, C. Y., Lin, C. Y. & Wu, T. L., 2026, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 73, 1, p. 318-324 7 p.研究成果: Article › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Investigation of Read-Speed Limitation and Switching Dynamics of Ferroelectric Capacitors for Capacitor-Mode Compute-in-Memory Applications
Liu, H. Y., Peng, W. C., Lin, C. Y. & Wu, T. L., 2026, 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2026. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings).研究成果 › 同行評審
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Investigation of TiO₂ seed layer engineering for improved remanent polarization uniformity, TDDB reliability, and dipole switching in La-doped ferroelectric HZO MFM devices
Liu, H. Y., Ronchi, N., Bizindavyi, J., Popovici, M. I., Yu, C. Y., Chen, P. M., Lin, C. Y., Van Houdt, J. & Wu, T. L., 4月 2026, 於: Microelectronics Reliability. 179, 116046.研究成果: Article › 同行評審
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Toward stable FeFET multi-level cell operations using novel weight freezing methodology with recovery cycling scheme for neuromorphic applications
Hsuen, J. H., Liu, H. Y., Lederer, M., Raffel, Y., Seidel, K., Kämpfe, T., De, S., Lin, C. Y. & Wu, T. L., 6月 2026, 於: Microelectronics Reliability. 181, 116128.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Novel Nondestructive Methodology Using PV Measurement With NLS-Based Analysis and GIXRD for Comprehensive O/T/M Phase Analyses in Ferroelectric HZO
Liu, H. Y., Peng, W. C., Yu, C. Y., Kuznietsov, I., Lin, C. Y., Chauhan, Y. S. & Wu, T. L., 2025, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 72, 7, p. 3582-3586 5 p.研究成果: Article › 同行評審
3 引文 斯高帕斯（Scopus）