每年研究成果
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2014
Low-temperature microwave annealing processes for future IC fabrication-A review
Lee, Y. J., Cho, T. C., Chuang, S. S., Hsueh, F. K., Lu, Y. L., Sung, P. J., Chen, H. C., Current, M. I., Tseng, T.-Y., Chao, T.-S., Hu, C.-M. & Yang, F. L., 3月 2014, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 61, 3, p. 651-665 15 p., 6737220.研究成果: Review article › 同行評審
66 引文 斯高帕斯（Scopus） -
1996
AC effects in IC reliability
Hu, C.-M., 1996, 於: Microelectronics Reliability. 36, 11-12 SPEC. ISS., p. 1611-1617 7 p.研究成果: Review article › 同行評審
12 引文 斯高帕斯（Scopus） -
1994
Reliability of thin SiO2
Schuegraf, K. F. & Hu, C.-M., 1 12月 1994, 於: Semiconductor Science and Technology. 9, 5, p. 989-1004 16 p., 002.研究成果: Review article › 同行評審
106 引文 斯高帕斯（Scopus）