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查看斯高帕斯 (Scopus) 概要
簡 昭欣
教授
電子研究所
智慧半導體奈米系統技術研究中心
https://orcid.org/0000-0002-6698-6752
h-index
h10-index
h5-index
2009
引文
22
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
366
引文
11
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
104
引文
5
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
1993 …
2022
每年研究成果
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計畫
(22)
研究成果
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研究成果
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2012
2015
2020
2022
2022
155
Article
42
Conference contribution
9
Paper
6
Conference article
3
更多
1
Comment/debate
1
Letter
1
Review article
每年研究成果
每年研究成果
6結果
出版年份,標題
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出版年份,標題
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標題
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Conference article
搜尋結果
2008
Electrical and material characterization of atomic-layer-deposited Al
2
O
3
gate dielectric on ammonium sulfide treated GaAs substrates
Cheng, C. C.
,
Chien, C-H.
,
Luo, G. L.
,
Chang, C. C.
,
Kei, C. C.
,
Yang, C. H.
,
Hsiao, C. N.
,
Perng, T. P.
&
Chang, C-Y.
,
27 3月 2008
,
於:
Journal of Physics: Conference Series.
100
,
Part 4
, 042002.
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
開啟存取
sulfides
100%
capacitance
75%
characterization
52%
leakage
38%
oxides
29%
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
Impact of charge trapping effect on negative bias temperature instability in P-MOSFETs with HfO
2
/SiON gate stack
Chen, S. C.
,
Chien, C-H.
&
Lou, J. C.
,
27 3月 2008
,
於:
Journal of Physics: Conference Series.
100
,
Part 4
, 042045.
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
開啟存取
alternating current
100%
field effect transistors
88%
trapping
86%
electrons
47%
electric potential
40%
2005
Impact of post-deposition-annealing on the electrical characteristics of HfO
x
N
y
gate dielectric on Ge substrate
Cheng, C. C.
,
Chien, C-H.
,
Chen, C. W.
,
Hsu, S. L.
,
Yang, M. Y.
,
Huang, C. C.
,
Yang, F. L.
&
Chang, C. Y.
,
17 6月 2005
,
於:
Microelectronic Engineering.
80
,
SUPPL.
,
p. 30-33
4 p.
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
Gate dielectrics
100%
Capacitor
72%
Annealing
69%
Dielectric Material
61%
Substrates
49%
15
引文 斯高帕斯(Scopus)
2004
High performance multi-bit nonvolatile HfO
2
nanocrystal memory using spinodal phase separation of hafnium silicate
Lin, Y. H.
,
Chien, C-H.
,
Lin, C. T.
,
Chen, C. W.
,
Chang, C. Y.
&
Lei, T. F.
,
1 12月 2004
,
於:
Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM.
p. 1080-1082
3 p.
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
Hafnium
100%
Nanocrystals
94%
Phase separation
81%
hafnium
78%
Hafnium Atom
75%
18
引文 斯高帕斯(Scopus)
2002
Improvement in ferroelectric properties of sol-gel derived SrBi
2
Ta
2
O
9
thin films with seeding layers
Leu, C. C.
,
Chien, C-H.
,
Yang, M. J.
,
Yang, M. C.
,
Huang, T. Y.
,
Lin, H. T.
&
Hu, C. T.
,
1 1月 2002
,
於:
Materials Research Society Symposium - Proceedings.
718
,
p. 189-194
6 p.
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
Bismuth
100%
Ferroelectric materials
98%
Sol-gels
97%
inoculation
82%
Strontium
74%
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
1998
Characterization of plasma charging damage in ultrathin gate oxides
Lin, H-C.
,
Wang, M. F.
,
Chen, C. C.
,
Hsien, S. K.
,
Chien, C-H.
,
Huang, T. Y.
,
Chang, C. Y.
&
Chao, T-S.
,
1 1月 1998
,
於:
Annual Proceedings - Reliability Physics (Symposium).
p. 312-317
6 p.
研究成果
:
Conference article
›
同行評審
Plasmas
100%
Oxides
93%
Temperature
43%
Current density
26%
Antennas
17%
13
引文 斯高帕斯(Scopus)