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查看斯高帕斯 (Scopus) 概要
簡 昭欣
教授
半導體工程學系
智慧半導體奈米系統技術研究中心
https://orcid.org/0000-0002-6698-6752
h-index
h10-index
h5-index
2311
引文
25
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
501
引文
12
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
285
引文
9
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
1993 …
2024
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173
Article
49
Conference contribution
9
Paper
6
Conference article
3
更多
1
Comment/debate
1
Letter
1
Review article
每年研究成果
每年研究成果
9結果
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出版年份,標題
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Paper
搜尋結果
2015
Metal nanowires self-assembly by dielectrophoretic and applications in optoelectronics
Lin, C. C., Lin, Y. L., Sun, W. H., Hu, S. Y., Cheng, C.,
Chien, C.-H.
, Chen, Z. L., Chang, C. J., Liu, J. C., Chen, C. L. &
Ko, F.-H.
,
7月 2015
.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Self-assembly
100%
Metal Nanowires
100%
Au Nanorods (AuNRs)
100%
Dielectrophoretic
100%
Conversion Efficiency
100%
2004
Effects of low tempersture NH3 treatment on HfO2/SiO2 stack gate dielectrics fabricated by MOCVD system
Lu, W. T.,
Chien, C.-H.
, Lin, Y. C., Yang, M. J. & Huang, T. Y.,
2004
,
p. 434-442
.
9 p.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Metal-organic Chemical Vapor Deposition (MOCVD)
100%
Low Temperature
100%
Silica
100%
HfO2
100%
NH3 Treatment
100%
Mechanism for slow programming in advanced low-voltage, high-speed ferroelectric memory
Lai, S. C., Tsai, C. W., Yen, C. T., Liu, C. L., Lee, S. Y., Lien, H. M., Lung, S. L.,
Chien, C.-H.
, Wu, T. B., Wang, T.-H., Liu, R. & Lu, C. Y.,
7月 2004
,
p. 123-126
.
4 p.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Low Voltage
100%
Ferroelectric Memory
100%
Polarization Loss
100%
Ferroelectric Material
100%
Schottky
33%
2000
Improved plasma charging immunity in ultra-thin gate oxide with fluorine and nitrogen implantation
Chen, C. C.,
Lin, H.-C.
, Chang, C. Y., Huang, C. C.,
Chien, C.-H.
, Huang, T. H. & Liang, M. S.,
2000
,
p. 121-124
.
4 p.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Charge Plasma
100%
Ultra-thin Gate Oxide
100%
Nitrogen Ion Implantation
100%
Fluorine Ion Implantation
100%
Oxide Compound
100%
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
1999
Plasma-induced charging damage in ultrathin (3 nm) nitrided oxides
Chen, C. C.,
Lin, H.-C.
, Chang, C. Y., Liang, M. S.,
Chien, C.-H.
, Hsien, S. K. & Huang, T. Y.,
1999
,
p. 141-144
.
4 p.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Ultrathin
100%
Charging Damage
100%
Nitrided Oxide
100%
Plasma-induced
100%
Experimental Result
100%
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
1997
Combination effects of nitrogen implantation at S/D extension and N
2
O oxide on 0.18 μm n- and p-MOSFETs
Chao, T.-S.
,
Chien, C.-H.
, Chiao, S. K.,
Lin, H.-C.
, Liaw, M. C., Chen, L. P., Huang, T. Y., Lei, T. F. & Chang, C. Y.,
1997
,
p. 316-320
.
5 p.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
NMOSFET
100%
PMOSFET
100%
Oxides
100%
Nitrogen Ion Implantation
100%
Nitrogen Effect
100%
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
Model for photoresist-induced charging damage in ultra-thin gate oxides
Lin, H.-C.
,
Chien, C.-H.
, Wang, M. F., Huang, T. Y. & Chang, C. Y.,
1997
,
p. 247-250
.
4 p.
研究成果
›
同行評審
Photoresist
100%
Charging Damage
100%
Ultra-thin Gate Oxide
100%
Gate Oxide
100%
Antenna
100%
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
1996
Plasma charging induced gate oxide damage during metal etching and ashing
Lin, H.-C.
, Perng, C. H.,
Chien, C.-H.
, Chiou, S. G., Chang, T. F., Huang, T. Y. & Chang, C. Y.,
1996
,
p. 113-116
.
4 p.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Charge Plasma
100%
Etcher
100%
Gate Oxide Breakdown
100%
Ashing
100%
Metal Etching
100%
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
1994
4D pulse propagation and 4D solitons in graded-index materials
Yu, S. S.,
Lai, Y.-C.
&
Chien, C.-H.
,
1994
.
研究成果
:
Paper
›
同行評審
Pulse Propagation
100%
Graded Index Material
100%
Graded Index
100%
Solitary Wave
100%
Pulsed Power
50%