每年研究成果
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2022
Defect Inspection Techniques in SiC
Chen, P. C., Miao, W. C., Ahmed, T., Pan, Y. Y., Lin, C. L., Chen, S. C., Kuo, H. C., Tsui, B. Y. & Lien, D. H., 2022, 於: Nanoscale Research Letters. 17, 1, 30.研究成果 › 同行評審
開啟存取62 引文 斯高帕斯（Scopus） -
2020
Well-behaved 4H-SiC PMOSFET with LOCal oxidation of SiC (LOCOSiC) isolation structure and compromised gate oxide for Sub-10V SiC CMOS application
Hung, C. L. & Tsui, B. Y., 4月 2020, 於: Solid-State Electronics. 166, 107774.研究成果: Review article › 同行評審
10 引文 斯高帕斯（Scopus）