搜尋結果
2011
Charge trapping
100%
Flash memory
75%
Data storage equipment
38%
Durability
25%
2005
Li, M. F. ,
Lee, S. ,
Zhu, S. ,
Li, R. ,
Chen, J. ,
Chin, A. &
Kwong, D. L. ,
5月 2005 ,
p. 301-302 .
2 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Ions
100%
Transistors
92%
Metals
69%
Hole mobility
59%
High-k dielectric
56%
2004
Ding, S. J. ,
Hu, H. ,
Zhu, C. ,
Kim, S. J. ,
Li, M. F. ,
Cho, B. J. ,
Chin, A. &
Kwong, D. L. ,
10月 2004 ,
p. 403-406 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Capacitance
100%
Capacitors
92%
Electric breakdown
43%
Crystallization
42%
Leakage currents
41%
Lai, C. H. ,
Lee, C. F. ,
Chin, A. ,
Zhu, C. ,
Li, M. F. ,
McAlister, S. P. &
Kwong, D. L. ,
6月 2004 ,
p. 259-262 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Capacitors
100%
Tuning
98%
Data storage equipment
77%
Bias voltage
52%
Management information systems
52%
Chin, A. ,
Kao, H. L. ,
Yu, D. S. ,
Liao, C. C. ,
Zhu, C. ,
Li, M. F. ,
Zhu, S. &
Kwong, D. L. ,
1 12月 2004 ,
p. 302-305 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Fermi level
100%
Hole mobility
95%
Electron mobility
90%
Rapid thermal annealing
88%
Ion implantation
78%
King, M. C. ,
Lai, Z. M. ,
Huang, C. H. ,
Lee, C. F. ,
Ma, M. W. ,
Huang, C. M. ,
Chang, Y. &
Chin, A. ,
20 9月 2004 ,
p. 171-174 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Hot carriers
100%
Thermal noise
98%
Equivalent circuits
72%
Liao, C. C. ,
Lai, Z. M. ,
Lee, C. F. ,
Lin, J. T. ,
Yu, D. S. &
Chin, A. ,
9月 2004 ,
p. 6-10 .
5 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Scattering parameters
100%
Noise figure
99%
Equivalent circuits
84%
Electric power utilization
64%
Zhu, S. ,
Chen, J. ,
Yu, H. Y. ,
Whang, S. J. ,
Chen, J. H. ,
Shen, C. ,
Li, M. F. ,
Lee, S. J. ,
Zhu, C. ,
Chan, D. S. H. ,
Du, A. ,
Tung, C. H. ,
Singh, J. ,
Chin, A. &
Kwong, D. L. ,
10月 2004 ,
p. 53-56 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
MOSFET devices
100%
Electrodes
65%
Metals
54%
Gate dielectrics
24%
Silicides
23%
Li, M. F. ,
Yu, H. Y. ,
Hou, Y. T. ,
Kang, J. F. ,
Wang, X. P. ,
Shen, C. ,
Ren, C. ,
Yeo, Y. C. ,
Zhu, C. X. ,
Chan, D. S. H. ,
Chin, A. &
Kwong, D. L. ,
10月 2004 ,
p. 366-371 .
6 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Gate dielectrics
100%
Charge trapping
55%
Threshold voltage
38%
Scalability
28%
Electric potential
18%
2003
Chin, A. ,
Yu, D. S. ,
Wu, C. H. ,
Huang, C. H. &
Chen, W. J. ,
10月 2003 ,
p. 363-371 .
9 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Hole mobility
100%
Crystallization
65%
Aluminum oxide
58%
Gate dielectrics
43%
Moisture
26%
Huang, C. H. ,
Chan, K. T. ,
Chen, C. Y. ,
Chin, A. ,
Huang, G. W. ,
Tseng, C. ,
Liang, V. ,
Chen, J. K. &
Chien, S. C. ,
6月 2003 ,
p. 373-376 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Noise figure
100%
Equivalent circuits
84%
Substrates
62%
2001
Chin, A. ,
Yang, M. Y. ,
Chen, S. B. ,
Sun, C. L. &
Chen, S-Y. ,
25 6月 2001 ,
p. 18-19 .
2 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Data storage equipment
100%
Lead zirconate titanate
99%
Aluminum oxide
78%
1998
Cheng, Y. C. ,
Chen, W. J. ,
Lin, B. C. ,
Tsai, C. &
Chin, A. ,
1 12月 1998 ,
p. 283-286 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Oxides
100%
Oxidation
25%
Transmission electron microscopy
14%
Scattering
13%
Surface roughness
12%
1997
Chin, A. ,
Prinslow, D. ,
Tsai, V. ,
Nasserbakht, G. &
Eklund, B. ,
1 1月 1997 ,
p. 148-152 .
5 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Monolithic microwave integrated circuits
100%
Scattering parameters
67%
Substrates
62%
Resistors
28%
Equivalent circuits
28%
Chin, A. ,
Chen, W. J. ,
Kao, R. H. ,
Lin, B. C. ,
Chang, T. ,
Tsai, C. &
Huang, J. C. M. ,
6月 1997 ,
p. 177-181 .
5 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Oxides
100%
oxides
72%
Oxide
62%
Electron mobility
22%
Electron Mobility
17%
1994
Lin, H. Y. ,
Peng, S. C. ,
Wei, F. C. ,
Deng, L. D. &
Chin, A. ,
12 7月 1994 ,
p. 4.4.13-4.4.16 .
4 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Red Shift
100%
Photoluminescence
98%
Electron mobility
95%
Optical properties
75%
Electron Mobility
72%
1987
Chin, A. &
Bhattacharya, P. ,
1 12月 1987 ,
p. 255-264 .
10 p. 研究成果: Paper › 同行評審
Semiconductor quantum wells
100%
Optical gain
55%
Transistors
54%
Impact ionization
49%
Molecular beam epitaxy
49%