智慧半導體奈米系統技術研究中心

4860 引文
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2020
A Density Metric for Semiconductor Technology
Wong, H. S. P., Akarvardar, K., Antoniadis, D., Bokor, J., Hu, C., King-Liu, T. J., Mitra, S., Plummer, J. D. & Salahuddin, S., 4月 2020, 於: Proceedings of the IEEE. 108, 4, p. 478-482 5 p., 9063714.
研究成果: Editorial
10 引文斯高帕斯（Scopus）
2018

Preface
Chang, E. Y., 8 3月 2018, 於: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 311, 1, 011001.
研究成果: Editorial

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