Research output: Patent
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TY - PAT
T1 - 擴散式光學斷層掃描裝置及擴散式光學斷層掃描方法
AU - Fang, Wai-Chi
PY - 2014/5/1
Y1 - 2014/5/1
M3 - Patent
M1 - I435712
ER -